CEMS 烟道监测

Xact™ 640 多金属监测仪

描述

CES Xact 640系统采用卷轮式(reel-to-reel,RTR)过滤器取样及非损害性X射线荧光(XRF)分析方法检测烟气中HAP金属排放。从烟道中等速采样,烟气流经化学活性过滤带,气相金属包括汞(Hg),与颗粒物一起沉淀在过滤带上。

在采集下一个样品时,沉淀物自动往前输送通过XRF自动分析所选择的金属。采样和分析持续同步进行,过滤带前进(约20秒)和日常自动进行仪器质量检查时除外。

2007年,Xact 640 CEMS 荣获空气清洁优秀奖,美国环保署EPA称其为在空气清洁创新技术领域的新成就。同时,Xact 640 CEMS经EPA批准为可以代替EPA Method 29周期测试进样法,用于监测工厂气体排放。

优点

  • 单一监测平台监测 Hg 和 HAP 金属含量
  • 无需颗粒物监测,符合 MATS (汞及空气污染物排放标准)
  • 符合40 CFR 第60 及 63 部分的规定
  • 测总汞(µg/dscm)
  • 与方法29相比,多参数金属分析降低成本,时间和资源
  • 非破坏性分析允许直接测量和存档
  • 灵敏和可靠 (ng/m3 to µg/m3 range)

特点

  • 自动质量检测,报警与控制
  • 无需气相校准
  • 可以同时监测23个参数(请参考以下可测参数周期表)
  • 分析每个样品时,自动进行内置校正检测
  • 可靠的RTR/XRF 技术:已应用于海底,火星探测以及成千上万的β射线衰减测试
  • 每天都会自动升级,空白和流量校验
  • 美国EPA批准为清洁空气创新技术 (2007年荣获清洁空气优秀奖)
  • 采样,分析,接近实时数据报告(每15,30,60,或者120分钟进行一次)

技术文献

Xact 640 规格表

OTM 16: XRF 多金属 CEMS 规格和验测步骤 (English)

OTM 17: XRF 分析过程中用过滤器和固体吸附剂来确定金属浓度(English)

OTM 19: 固定污染源的排放中确定金属的浓度(English)

OTM 20: 基于XRF多金属 CEMS 的质量保证要求(English)


请求报价

Xact™ 645 汞监测仪

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描述

CES Xact 645 连续汞(Hg)监测仪采集和分析汞的排放,汞可以通过获有专利的过滤反应技术和非损害X射线荧光(XRF)测量。一种从来源获取的气体样品,稀释过的,然后通过一个化学过滤反应带。气体汞和颗粒物金属一起附在过滤带上。采集以后,卷盘(RTR)驱动带会自动地往前移动,而XRF对样品进行分析的同时,下一个采样同时进行。除了在过滤带往前移动和日常自动的质量保证检测期间,采样和分析不间断的进行。

优点

  • 不需要另外硬件,可以更新到测量其它元素(如铅、砷、铬等)
  • 只需要一月一次的维修
  • 可以用于符合40 CFR Part 60和63的规定
  • 允许样品存储的非损害分析方法
  • 灵敏和可靠的(ng/m3 到 mg/m3的范围)
  • 认可的XRF技术已经在海底和火星上展示过

特性

  • 连续的和及时的报告(每15, 30, 60 或 120 分钟,μg/dscm单位)
  • 内部标准可以和每一个分析的样品协调
  • 自动地提供日常的校准,空白检测和流动的检查
  • 3.45%的相对的精确度
  • RATA线性回归有0.9754的R²
  • 自动地质量保证警告和控制特性

技术文献

XRF 汞监测仪的相对准确度测试(English)